Приглашаем в Отдел БЕН РАН на выставку "Электронная микроскопия: вчера и сегодня"
Отдел БЕН РАН в Курчатовском комплексе кристаллографии и фотоники приглашает посетить тематическую выставку «Электронная микроскопия: вчера и сегодня».
Методы электронной микроскопии применяются для исследования структуры объектов в физике твердого тела, кристаллографии, материаловедении, химии и минералогии, а также для контроля качества образов на производстве.
На выставке представлены:
фундаментальные издания, описывающие принципы и основы методов электронной микроскопии,
выпуски тематических журналов, включающие статьи, посвященные исследованиям различных научных групп с использованием методов электронной микроскопии,
сборники тезисов Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел,
современные издания, описывающие новые возможности электронной микроскопии.
Отдел БЕН РАН в Курчатовском комплексе кристаллографии и фотоники приглашает посетить тематическую выставку «Электронная микроскопия: вчера и сегодня».
